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  2. シーズ
  3. K-デバイス

CMOS集積回路のトランジスタ幅が可変となる標準セル構造の研究

https://kindai.repo.nii.ac.jp/records/4064
https://kindai.repo.nii.ac.jp/records/4064
8e7079d0-5436-4a4f-99e1-27c4530b3a18
名前 / ファイル ライセンス アクション
SEEDS_kindai_K-001.pdf SEEDS_kindai_K-001.pdf (149.0 kB)
Item type ☆その他 / Others(1)
公開日 2012-10-24
タイトル
タイトル CMOS集積回路のトランジスタ幅が可変となる標準セル構造の研究
言語 ja
著者 秋濃, 俊郎

× 秋濃, 俊郎

ja 秋濃, 俊郎

Search repository
言語
言語 jpn
キーワード
主題 CMOS集積回路, 標準セル, 基板バイアス, 閾値電圧
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_1843
資源タイプ other
著者 所属
近畿大学生物理工学部 電子システム情報工学科
著者所属(翻訳)
Kinki University
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
出版者 名前
出版者 近畿大学リエゾンセンター
言語 ja
bibliographic_information ja : 近畿大学研究成果シーズ
en : Seeds Kinki University

p. 1-1
item_5_description_33
内容記述タイプ Abstract
内容記述 [概要]静的な基板バイアス[V_<DD>' (>V_<DD>), V_<SS>' (<_V_<SS>)]を印加して, ソース端子が電源電圧V_<DD> 及び接地電圧V_<SS>に直接接続する全てのプルアップ/プルダウン・トランジスタを高い閾値電圧にし, 低い閾値電圧を持つPMOS トランジスタの基板であるn ウエルを作成しない, 静的基板バイアス印加ドミノCMOS(SSDCMOS)集積回路を開発しました。通常のn ウエルを無くすることにより, 大幅に回路面積が減ります。またそのトランジスタ幅を負荷状況にあわせて容易に変え得るような標準セルのレイアウト構造を考案し, 低消費電力なCMOS 集積回路の標準セルを実現しました。
言語 ja
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 分野:デバイス
特許出願:特願 平成11-350529
言語 ja
item_5_textarea_42
SEEDS_kindai_K-001
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Ver.1 2023-06-21 01:18:46.058429
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