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  1. Public
  2. 研究紀要
  3. 工業高等専門学校研究紀要
  4. 4(2010)
  1. Private
  2. 研究紀要
  3. 工業高等専門学校研究紀要Research reports Kinki University Technical College
  4. 4(2011)

レーザによるディフェクト検出の研究

https://kindai.repo.nii.ac.jp/records/12788
https://kindai.repo.nii.ac.jp/records/12788
b32a2f2c-3b02-40f3-91d5-659ee5f6cdc8
名前 / ファイル ライセンス アクション
AA12315376-20110115-0033.pdf AA12315376-20110115-0033.pdf (1.5 MB)
Item type ☆紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2011-03-23
タイトル
タイトル レーザによるディフェクト検出の研究
タイトル
タイトル Defect Detection for Manufactured Parts by Using a Laser Beam Scanner
言語 en
著者 大島, 茂

× 大島, 茂

大島, 茂

ja-Kana オオシマ, シゲル

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山本, 博哉

× 山本, 博哉

山本, 博哉

ja-Kana ヤマモト, ヒロヤ

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吉積, 潔

× 吉積, 潔

吉積, 潔

ja-Kana ヨシズミ, キヨシ

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言語
言語 jpn
キーワード
主題 Defect detection, Flaw detection, optical, Light, scan, Laser, LD, PD, synchronized detection
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
著者(英)
言語 en
値 Oshima, Shigeru
著者(英)
言語 en
値 Yamamoto, Hiroya
著者(英)
言語 en
値 Yoshizumi, Kiyoshi
著者 所属
値 近畿大学工業高等専門学校 総合システム工学科 電気電子系
著者 所属
値 熊野精工株式会社 品質保証部
著者 所属
値 熊野精工株式会社 品質保証部
版
出版タイプ AM
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa
出版者 名前
出版者 近畿大学工業高等専門学校
書誌情報 近畿大学工業高等専門学校研究紀要
en : Research reports Kinki University Technical

号 4, p. 33-36, 発行日 2011-01-01
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 18824374
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 Defect detection for manufactured parts is very important task of total quality control program. Defect detection by a human visual inspection is not only high cost but also unreliable because working on a visual inspection tires the worker's eyes. Laser scanner defect detector is most promising technique in the automatic defect detection techniques. A laser defect detector system for manufactured products by Kumanoseiko Corporation has been developed by collaborative research with Kumanoseiko Corporation. Though the inspective products were complex shape, scanned area by the laser scanner was matched to the shape. A photodiode of the laser defect detector system caught scattered light form the inspective products. It became much easier to set the inspective products in the defect detector system because fitting angle precision of the products was quite coarse owing to the scattered light detection. The defect detector system would turn to practical use in the near future.
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 Ohshima, Shigeru
フォーマット
内容記述タイプ Other
内容記述 application/pdf
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Ver.1 2023-06-20 18:43:26.727038
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